| 3D顯微鏡和輪廓儀 |
| 精確測量 |
| 表面3D形貌和幾何形狀 |
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| 免費(fèi)下載： |
| Mahr的 "光學(xué)表面計量" 產(chǎn)品冊以92頁的篇幅向您詳細(xì)介紹了光學(xué)計量的應(yīng)用領(lǐng)域、測量技術(shù)和軟件解決方案以及Mahr的3D測量儀器產(chǎn)品線。 |
| 包括以下主題： |
? 哪些表面特征可被測量？
? 各行業(yè)的發(fā)展趨勢是什么？
? 不同測量技術(shù)的優(yōu)勢分別是什么？
? 如何以最佳或客戶特定的方式呈現(xiàn)測量結(jié)果？
? 提供哪些產(chǎn)品解決方案？
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| 產(chǎn)品冊預(yù)覽 |
| 全新的驅(qū)動技術(shù)正在改變我們的交通方式。這些新技術(shù)對產(chǎn)品表面質(zhì)量提出了新的挑戰(zhàn)。 |
| 為確保產(chǎn)品表面的粗糙度、幾何形狀和孔隙率完全正確 — Mahr的光學(xué)計量儀器將是您質(zhì)量的保證。 |
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| 與白光干涉儀相比，共聚焦顯微鏡的優(yōu)勢是什么，應(yīng)該使用哪種技術(shù)進(jìn)行哪些測量任務(wù)？ |
| 此頁面通過比較不同技術(shù)的優(yōu)勢和可能性，使您對測量的性能一目了然。例如，如果需要高垂直分辨率，白光干涉測量顯然領(lǐng)先。另一方面，共聚焦設(shè)備在橫向分辨率、高動態(tài)性能和高傾斜角度方面得分。 |
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